Ερώτηση προϊόντος
- Σειρά: σειρά FF
- Βιομηχανία: Αυτοκίνητα, Ηλεκτρονικά, Αεροδιαστημική, Επιστήμη και έρευνα, Χυτήρια, Ημιαγωγοί, Πρόσθετες κατασκευές
- Μέγεθος ελαττώματος: <1μm, <50μm, <1mm, >1mm
- Μέγεθος τεμαχίου: μικρό μέγεθος, μεσαίο μέγεθος, μεγάλο μέγεθος
- Τρόπος λειτουργίας: 3D, 2D/3D, μετρολογία
Σημαντικότερα σημεία του FF35 CT
- Διαμόρφωση ενός ή δύο σωλήνων για μέγιστη ευελιξία σε εργαστηριακές εφαρμογές μικρο-CT
- Εναλλαγή μεταξύ των σωλήνων μικροεστίασης 225 kV και νανοεστίασης 190 kV σε δευτερόλεπτα με το πάτημα ενός μόνο κουμπιού
- Ακριβή αποτελέσματα χάρη στον χειρισμό με βάση τον γρανίτη και τον κλιματισμό
- Ευελιξία εφαρμογής λόγω διαφόρων τροχιών CT και επεκτάσεων FoV μέσω της πλατφόρμας λογισμικού Geminy
- Προαιρετική έκδοση μετρολογίας με MPESD = 5,9 μm + L/75 [L σε mm]
- Διατίθεται ως έκδοση FF35 CT SEMI σύμφωνα με τα πρότυπα της αγοράς ημιαγωγών
Ευέλικτη επιθεώρηση πολύ μικρών έως μεσαίων τεμαχίων
Οι συσκευές Comet Yxlon FF35 CT, FF35 CT Metrology και FF35 CT SEMI καλύπτουν ένα εξαιρετικό εύρος εφαρμογών. Οι δυνατότητες περιλαμβάνουν βελτιωμένες δοκιμές υλικών στο τμήμα Ε&Α, βελτιστοποίηση του ελέγχου διεργασιών και επιθεώρηση μικρών σειρών, καθώς και διάφορες επιστημονικές εφαρμογές. Η διάταξη διπλής λυχνίας ακτίνων Χ επιτρέπει στο σύστημα CT υψηλής ανάλυσης να επεκτείνει σημαντικά τις δυνατότητες διασφάλισης ποιότητας και έρευνας στις βιομηχανίες αυτοκινήτων, ηλεκτρονικών, αερομεταφορών και επιστήμης υλικών.
Ποια αντικείμενα μπορούν να επιθεωρηθούν με το FF35 CT
- Ηλεκτρονικά εξαρτήματα, συμπεριλαμβανομένων των SMD
- Προϊόντα που περιλαμβάνουν νέα υλικά ή νέες μεθόδους κατασκευής, π.χ. πρόσθετα κατασκευασμένα εξαρτήματα, πλαστικά ενισχυμένα με ίνες
- Κυψέλες και μονάδες μπαταριών
- Πλαστικά μορφοποιημένα με έγχυση
- Μικροσυστήματα (MEMS, MOEMS)
- Ιατρικά αντικείμενα, π.χ. κάνουλες
- Χύτευση ελαφρών κραμάτων
- Γεωλογικά, παλαιοντολογικά και βιολογικά δείγματα
Για ποιες εφαρμογές έχει σχεδιαστεί το FF35 CT
- Διασφάλιση ποιότητας, ανάλυση υλικών και έρευνα
- Ανάλυση αστοχίας και δομής
- Έλεγχος συναρμολόγησης
- Επιθεώρηση μικρών σειριακών παραγωγών
- Έλεγχος διεργασιών
- Ψηφιοποίηση
- Τμηματοποίηση