Comet Yxlon GmbH

• Σειρά: σειρά FF
• Βιομηχανία: Αυτοκίνητα, Ηλεκτρονικά, Αεροδιαστημική, Επιστήμη και έρευνα, Ημιαγωγοί, Κατασκευή
• Μέγεθος ελαττώματος: <1μm, <50μm, <1mm, >1mm
• Μέγεθος μέρους: μικρό μέγεθος, μεσαίο μέγεθος
• Τρόπος λειτουργίας: 3D, 2D/3D, μετρολογία

• Ακριβείς αναλύσεις υλικών σε εργαστηριακές εφαρμογές
• ορατότητα λεπτομέρειας 2D έως και 150 nm με σωλήνα μετάδοσης 190 kV
• Ακριβής χειρισμός και σταθερότητα θερμοκρασίας μέσω της βάσης από γρανίτη
• Διαισθητική γραφική διεπαφή χρήστη Geminy με οθόνες αφής
• Προαιρετική έκδοση μετρολογίας με MPESD = 3,9 μm + L/75 [L σε mm]
• Μη καταστροφικός έλεγχος με υψηλή ενέργεια

Όσο μικρότερα γίνονται τα εξαρτήματα, τόσο πιο σημαντικό είναι να επιτυγχάνονται υψηλής ακρίβειας και αξιοπιστίας σαρώσεις με ακτίνες Χ και αξονική τομογραφία για τη διασφάλιση ποιότητας, τον έλεγχο διεργασιών και τις επιθεωρήσεις μικρών σειρών. Τα εξαιρετικά συμπαγή συστήματα υψηλής ανάλυσης Comet Yxlon FF20 CT και FF20 CT Metrology έχουν σχεδιαστεί ειδικά για την επιθεώρηση πολύ λεπτών εξαρτημάτων και εσωτερικών δομών. Με συγκριτικά υψηλή ενέργεια 190 kV, ακόμη και πυκνά αντικείμενα μπορούν να αναλυθούν με την παραμικρή λεπτομέρεια.

• Ηλεκτρονικά εξαρτήματα, συμπεριλαμβανομένων των SMD
• Συσκευασίες ημιαγωγών
• Κυψέλες μπαταριών
• Πλαστικά χυτά με έγχυση
• Προϊόντα που περιλαμβάνουν νέα υλικά ή νέες μεθόδους κατασκευής, π.χ. πρόσθετα κατασκευασμένα εξαρτήματα, πλαστικά ενισχυμένα με ίνες
• Μικροσυστήματα (MEMS, MOEMS)
• Ιατρικά αντικείμενα, π.χ. σωληνάκια
• Γεωλογικά, παλαιοντολογικά και βιολογικά δείγματα

• Διασφάλιση ποιότητας, ανάλυση υλικών, έρευνα υλικών
• Ανάλυση αστοχίας και δομής
• Έλεγχος συναρμολόγησης
• Επιθεώρηση μικρών σειριακών παραγωγών
• Έλεγχος διεργασιών
• Ψηφιοποίηση
• Τμηματοποίηση