Ο Dirk Steiner, Business Development Manager στην Yxlon, ασχολείται εντατικά με τη βιομηχανική υπολογιστική τομογραφία από το 2004 και έχει σαρώσει και αναλύσει περισσότερα από 1.000 σύνολα δεδομένων. Εδώ έχετε την ευκαιρία να παρακολουθήσετε την ηχογράφηση του σημερινού διαδικτυακού σεμιναρίου Today's Metrology Live της GIE Media και να ακούσετε πώς επιλύονται αξιόπιστα απαιτητικές εργασίες μετρολογίας με την υπολογιστική τομογραφία. Η Yxlon ήταν παρούσα μαζί με κατασκευαστές άλλων τεχνολογιών που σχετίζονται με τη μετρολογία για να παράσχει μια ολοκληρωμένη επισκόπηση των λύσεων.

Ο Dirk μίλησε για τις τελευταίες τάσεις στη μετρολογία με τη χρήση βιομηχανικής υπολογιστικής τομογραφίας (CT) και για το πώς τα δεδομένα είναι το κλειδί για τη λήψη των πληροφοριών που χρειάζονται οι κατασκευαστές για την αύξηση της αποτελεσματικότητας και τη μείωση του κόστους. Το πιο σημαντικό για τους κατασκευαστές είναι η υψηλή ποιότητα των προϊόντων τους. Στο "στρογγυλό τραπέζι", πέντε συμμετέχοντες συζήτησαν πώς οι λύσεις τους μπορούν να βοηθήσουν τους παραγωγούς να το επιτύχουν αυτό. Ωστόσο, η μέτρηση και η ανάλυση των εσωτερικών δομών είναι δυνατή μόνο με την αξονική τομογραφία.

Απαντώντας σε μία από τις ερωτήσεις που τέθηκαν, ο Dirk δήλωσε: "Η αξονική τομογραφία είναι μια μη-τακτική μέθοδος, οπότε δεν αλλάζουμε τη γεωμετρία κατά τη διαδικασία. Μπορούμε να δούμε τις εσωτερικές δομές και με τη μεγάλη τάση προς την προσθετική κατασκευή σήμερα, δεν υπάρχουν όρια στο τι μπορείτε να σχεδιάσετε και να εκτυπώσετε. Με την αξονική τομογραφία, μπορούμε να κοιτάξουμε μέσα και να μετρήσουμε πράγματα που είναι είτε υποβαθμισμένα είτε ακόμη και κρυμμένα μέσα στο τεμάχιο. Επιπλέον, λαμβάνουμε επίσης δεδομένα από ατέλειες, εσωτερικές ατέλειες, οι οποίες από μόνες τους δεν έχουν καμία σχέση με τη μετρολογία. Έτσι, σκοτώνουμε δύο τρυγόνια με ένα σμπάρο"